Зарегистрироваться
Восстановить пароль
FAQ по входу

Электронография

Электронографией называют методы изучения строения вещества, основанные на рассеянии ускоренных электронов на исследуемом образце. Электронография схожа с рентгеноструктурным анализом и нейтронографией, однако позволяет исследовать атомную структуру мелкокристаллических веществ и монокристаллов, значительно меньших размеров, чем в рентгенографии и нейтронографии.

Теги, соответствующие этому тематическому разделу

Файлы, которые ищут в этом разделе

Доверенные пользователи и модераторы раздела

C
Wiley, 1985. – 337 p. Surface structures and diffraction Experimental techniques Scattering of electrons by crystals Multiple-scattering calculations Temperature effects Applications of kinematic theory Comparison of theoretical and experimental results Comparison of LEED with related surface analysis techniques
  • №1
  • 13,57 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
I
Cambridge: University Press, 2004. - 353 c. This book serves as an introduction to RHEED for beginners and describes detailed experimental and theoretical treatments for experts. First the principles of electron diffraction and many examples of the interpretation of RHEED patterns are described for beginners. The second part contains detailed descriptions of RHEED theory....
  • №2
  • 6,69 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
S
Kluwer Academic, 2000, Pages: 339 Crystallographic texture or preferred orientation has long been known to strongly influence material properties. Historically, the means of obtaining such texture data has been though the use of x-ray or neutron diffraction for bulk texture measurements, or transmission electron microscopy (TEM) or electron channeling for local crystallographic...
  • №3
  • 59,28 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
2nd Edition. — Springer Science+Business Media, LLC, 2009. — 406 p. — ISBN: 0387881352 Electron backscatter diffraction (EBSD), when employed as an additional characterization technique to a scanning electron microscope (SEM), enables individual grain orientations, local texture, point-to-point orientation correlations, and phase identification and distributions to be...
  • №4
  • 29,46 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
V
Springer, 1986. — 604 p. — (Springer Series in Surface Sciences 6). — ISBN: 978-3-642-82721-1, 978-3-642-82723-5. Surface crystallography plays the same fundamental role in surface science which bulk crystallography has played so successfully in solid-state physics and chemistry. The atomic-scale structure is one of the most important aspects in the understanding of the...
  • №5
  • 23,97 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
Б
Львів: Видавничий центр ЛНУ імені Івана Франка, 2006. — 63 с. Лабораторний практикум. Розглянуто застосування дифракції електронів для дослідження структури матеріалів, описано шість лабораторних робіт з методики індексування та розшифрування електронограм від полікристалічних, монокристалічних і аморфних матеріалів, проаналізовано геометрію утворення дифракційної картини в разі...
  • №6
  • 891,51 КБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
В
М: Изд-во АН СССР, 1956. — 342 с. Наряду с классическим методом анализа атомной структуры кристаллов — рентгенографией — все большее значение приобретают в настоящее время другие диффракционные методы: электронография и нейтронография. При помощи электронографического метода могут решаться как некоторые общие вопросы структурного анализа, доступные двум другим методам, так и...
  • №7
  • 10,05 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
М.: Изд. Московского Университета, 1974. - 228 с. В книге изложены основные вопросы теории метода газовой электронографии - одного из современных физических методов определения геометрического строения молекул в газовой фазе. Этот метод основан на явлении рассеяния пучка электронов, ускореных в поле высокого напряжения (40 - 60 кВ) на струе пара исследуемого вещества. Достаточно...
  • №8
  • 4,49 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
Ж
Москва: Металлургия, 1971. — 176 с. Показано применение электронографии для исследования и контроля фазового состава и степени совершенства структуры поверхностных слоев и пленок. Изложены методы расчета, индицирования электронограмм, особенно расчеты, связанные с характеристикой кикучи-линий. Авторами разработана классификационная шкала электронограмм, устанавливающая связь...
  • №9
  • 87,27 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
Москва: Металлургия, 1971. — 176 с. Показано применение электронографии для исследования и контроля фазового состава и степени совершенства структуры поверхностных слоев и пленок. Изложены методы расчета, индицирования электронограмм, особенно расчеты, связанные с характеристикой кикучи-линий. Авторами разработана классификационная шкала электронограмм, устанавливающая связь...
  • №10
  • 7,16 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
З
М.: Наука, 1964. — 282 с. В книге рассмотрены такие основные вопросы: структуры и структурные модификации глинистых силикатов; экспериментальная методика электронографического исследования минералов; геометрическая теория дифракции электронов и расчета электронограмм глинистых минералов; распространение интенсивностей дифракционных картин слоистых силикатов; экспериментальные...
  • №11
  • 4,14 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
И
М.: Физматлит, 2013. — 616 с. — ISBN: 978-5-9221-1447-9. Представлены современные достижения в теории и эксперименте метода дифракции электронов в 4D пространственно-временном континууме. Даны основы классической газовой электронографии, в том числе высокотемпературной, на основе понятия поверхности потенциальной энергии. Введение развертки во времени в дифракционные методы с...
  • №12
  • 52,59 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
Э
М.: Мир, 1971. - 256 стр. УДК. 537.533.35 Книга посвящена вопросам получения и интерпретации электронограмм и написана как практическое руководство без детального рассмотрения теоретических положений. Описаны особенности электронограмм от тонких монокристаллических и поликристаллических объектов, подробно проанализированы ошибки, возможные при определении по электронограммам...
  • №13
  • 2,52 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
В этом разделе нет файлов.

Комментарии

В этом разделе нет комментариев.