Под ред. С.В. Свечникова. — М.: Радио и связь, 1981. — 368 с.: ил. — (Измерения в электронике).
Приведена классификация приборов некогерентной оптоэлектроники и определена оптимальная система параметров. Рассмотрены методы измерения параметров и основы проектирования информационно-измерительных комплексов, управляемых ЭВМ. Обсуждено метрологическое обеспечение разработок и производства приборов некогерентной оптоэлектроники. Разработаны научно-методические основы метрологического обеспечения предприятия.
Для специалистов, работающих в различных областях радиоэлектроники, а также для студентов и аспирантов соответствующих специальностей.
Предисловие
Введение
Система обеспечения единства и требуемой точности измерений параметров приборов некогерентной оптоэлектроники
Элементы фотометрии
Физические принципы преобразования электрических и оптических сигналов
Система параметров излучающих приборов и приборов визуального представления информации и методы их измерения
Система параметров фотоприемников и методы их измерения
Системы параметров оптопар и оптоэлектронных микросхем и методы их измерения
Измерительное оборудование для контроля параметров изделий некогерентной оптоэлектроники
Информационно-измерительные комплексы, управляемые ЭВМ, в производстве изделий некогерентной оптоэлектроники
Метрологическое обеспечение разработок и производства изделий некогерентной оптоэлектроники.
Измерение параметров и проблемы метрологического обеспечения в производстве полупроводниковых материалов некогерентной оптоэлектроники
Список литературы
Предметный указатель